所属栏目:光学薄膜
1.1.4.1 表面统计参量光学材料表面微粗糙的存在,是材料本身及加工过程带来的必然结果。设z(x)是真实表面x处偏离平均平面的高度函数,由于它的高低起伏被认为是一个静态随机过程,为了更好地了解表面的特征,人们通常用数学上常 ......(本文共 12761 字 , 33 张图) [阅读本文] >>